X射线荧光法光谱涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL
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FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 220
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 240
X射线光谱仪，采用手动或自动方式，测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。
FISCHERSCOPE X-RAY
简介：
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®是一款应用于广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型仪器上发展而来的。与上一代相类似，它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了菲希尔的基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确分析和测量。可测量的元素范围从氯（17）到铀（92）。
XDL型X射线光谱仪有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器了。
XDL系列仪器特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
典型的应用领域有：
测量大规模生产的电镀部件
二两薄镀层，例如装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
分析电镀溶液
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL设计为界面友好、结构紧凑的台式测量仪器系列。我们会根据平台的运行模式以及固定或者可调节的Z轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际应用 的需求。
XDL210：平面样品平台，固定的Z轴系统
XDL220：平面样品平台，马达驱动的Z轴系统
XDL230：手动操作的X-Y样品平台，马达驱动的Z轴系统
XDL240：马达驱动的X-Y样品平台，当测量门打开时，工作台会自动移到放置样品的位置；马达驱动的Z轴系统，可编程运行，可用两种速度运行。
高分辨的彩色视频镜头配以强大的放大功能，可以精确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。配有手动或者马达驱动X-Y样品平台的仪器还配备了激光点，可以辅助定位并快速对准测量位置。
测量箱底部的开槽转为大而扁平的样品设计，可以测量比测量箱更长和更宽的样品，例如大型的线路板。
所有的操作，测量数据的计算，以及测量数据报表的清晰显示都是通过强大而界面友好的WinFTM?然间在电脑上完成的。
XDL型光谱仪是安全而保护全面的测量仪器，型式许可符合德国“Deutsche Rontgenverordnug-RoV”法规规定。
通用规范
用途：能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）用于测量镀层和微小结构，分析合金和微量组分
元素范围：从氯（17）到铀（92），如使用选配的WinFTM?BASIC，可最多同事测量24种元素
设计理念：台式仪器，测量门向上开启
测量方向：由上向下
X射线源
X射线源：带铍窗口的钨靶射线管
高压：三种可调高压：30kV，40 kV，50 kV
孔径（准直器）：￠0.3mm，（可选：圆形￠0.1mm；￠0.2mm；长方形0.3mm×0.05mm）
测量点：取决于测量距离及使用的准直器的大小，实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。最小的测量点大小约为￠0.16mm
测量距离，（如腔体内部测量）：使用专利保护的DCM（测量距离补偿法）功能
测量距离为0-20mm时，为已校准范围
测量距离为20-80mm时，为非校准范围
X射线探测器
X射线接收器：比例计数器
样品定位
视频显示系统：高分辨CCD彩色摄像头，可于查看测量位置
手动调焦或自动聚焦
带刻度的十字线及测量点指示
测量区域的LED照明亮度可调节
激光点用于精确定位样品
放大倍数：20x-180x（光学变焦：20x-45x；数字变焦：1x，2x，3x，4x）
样品台
电气参数
尺寸大小
环境条件要求
计算系统
执行标准
订购号
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